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隨著集成電路的集成度越來越高，電路越來越復雜，工作電壓越來越低，對環(huán)境穩(wěn)定性的要求也越高。
一方面由于電子設備內(nèi)部結(jié)構(gòu)高度集成化，從而造成設備耐壓、耐過電流的水平下降，對過壓和過流的承受能力下降，另一方面由于信號來源路徑增多，系統(tǒng)較以前更容易遭受過壓和過流侵入。
